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| 品牌 | MITUTOYO/三豐 | 產地類別 | 進口 |
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供應日本三豐SV-3200S4臺式表面粗糙度儀
產品特點：
1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。
2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。
3.標配高分辨率的Z1軸檢出器，zui高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。
4.Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。
5. X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實現X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性，延長使用壽命。
6.X軸的分辨力為0.05μm。
7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。
8.驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測量工件的水平。
9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。
10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了zui高定位速度(X軸：zui大80mm/s,Z軸：zui大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。
輪廓測量技術參數:
X軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:反射型線性編碼器
驅動速度:80mm/s、外加手動
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向前／向后
直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm *以X軸為水平方向上
指示精度(20°C時):±(0.8+0.01L)μm(SV-C3200S4,H4,W4) (SV-C4500S4,H4,W4)
±(1+0.02L)μm(SV-C3200S8,H8,W8) (SV-C4500S8,H8,W8) *L為驅動長度(mm)
傾角范圍:±45°
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-30mm/s、外加手動
Z1軸(檢測器)
測量范圍:±30mm
分辨率:0.04μm(SV-C3200),0.02μm(SV-C4500)
檢測方法:圓弧光柵尺
指示精度(20°C時):±(1.6+I 2H I/100)μm(SV-C3200)
±(0.8+I 2H I/100)μm(SV-C4500) *H:基于水平位置的測量高度(mm)
測針上／下運作:弧形移動
測針方向:向上／向下
測力:30mN
跟蹤角度:向上:77°,向下:83°
測針針尖*半徑:25μm、硬質合金*
技術參數：
X1軸
測量范圍:100mm或200mm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:80mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+L/1000)μm(S4,H4,W4型)
0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)
Z2軸(立柱)垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-30mm/s、外加手動
檢測器
范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用測頭選件)
檢測方法:無軌／有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR(60o/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式
供應日本三豐SV-3200S4臺式表面粗糙度儀
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